激光椭偏仪

激光椭偏仪EMPro
EMPro系列是针对高端研发和质量控制领域推出的***型多入射角激光椭偏仪。 EMPro系列可在单入射角度或多入射角度下对样品进行准确测量。可用于测量单层或多层纳米薄膜样品的膜层厚度、折射率n和消光系数k；也可用于同时测量块状材料的折射率n和消光系数k；亦可用于实时测量纳米薄膜动态生长中膜层的厚度、折射率n和消光系数k。多入射角度设计实现了纳米薄膜的***厚度测量。
技术优势
(1)先进的测量方法:Delta测量范围0-360°无测量死角问题(即使在0°或180°附近时也具有极高的准确度)，也可消除粗糙表面引起的消偏振效应对结果的影响;
(2)原子层量级的极高灵敏度和准确度:国际先进的采样方法、高稳定的核心器件、高质量的制造工艺实现并保证了极高的准确度和稳定性;
(3)百毫秒量级的快速测量:在保证极高精度和准确度的同时，可在几百毫秒内快速完成一次测量，可满足快速多点检测和批量检测需求;
(4)精准方便的样品对准:视频式自准直样品方位精密对准系统，精度高、操作方便;
(5)简单方便的仪器操作:一键操作即可完成复杂的样品测量和分析;按照质控要求进行数据多种导出;丰富的模型库和材料库方便用户的高级操作;管理员/操作员不同的模式，保证仪器安全。

光伏专用激光椭偏仪EMPro-PV
EMPro-PV是ELLITOP针对光伏太阳能电池高端研发和质量控制领域推出的专用型多入射角激光椭偏仪。 EMPro-PV用于测量绒面单晶硅或多晶硅太阳电池表面减反膜镀层的厚度以及在632.8nm下的折射率n。也可测量光滑平面材料上的单层或多层纳米薄膜的膜层厚度，以及在632.8nm下折射率n和消光系数k。 EMPro-PV融合多项量拓科技专利技术，采用单多晶一体化样品台技术，兼容测量单晶和多晶太阳电池样品，并实现二者的瞬间轻松转换。一键式多线程操作软件，使得仪器操作简单安全。
技术优势
(1)先进的测量方法:旋转补偿器椭偏测量方法，Delta的测量范围0-360°，无测量死角问题(即使在0°或180°附近时也具有极高的准确度)，也可消除粗糙表面引起的消偏振效应对结果的影响;(2)粗糙绒面纳米薄膜的高灵敏测量:先进的光能量增强技术、低噪声的探测器件以及高信噪比的微弱信号处理方法，实现了对粗糙表面散射为主和极低反射率为特征的绒面太阳电池表面镀层的高灵敏检测;
(3)原子层量级的极高灵敏度和准确度:国际先进的采样方法、高稳定的核心器件、高质量的制造工艺实现并保证了极高的准确度和稳定性;
(4)百毫秒量级的快速测量:在保证极高精度和准确度的同时，可在几百毫秒内快速完成一次测量，可满足快速多点检测和批量检测需求;
(5)单多晶测量快速转换:瞬间完成单晶多晶样品台的转换，方便多种不同样品频繁更换的质量检测现场;
(6)简单方便的仪器操作:一键操作即可完成复杂的样品测量和分析;按照质控要求进行数据多种导出;丰富的模型库和材料库方便用户的高级操作;管理员/操作员不同的模式，保证仪器安全。