Dimension XR扫描探针显微镜

Dimension XR
布鲁克的Dimension XR扫描探针显微镜（SPM）系统攘括了原子力显微镜数十年来的研究和技术创新。通过常规的真原子相分辨率，以及一系列独特的技术，包括峰值力轻敲模式、数据立方体模式、SECM和AFM-nDMA，Dimesnion XR系统可提供最强的性能和功能。Dimension XR 系列将这些技术整合提供完整的解决方案，以满足纳米力学、纳米电气和纳米电化学应用的需求。在空气、流体、电气或化学反应环境中对材料和纳米尺度系统的定量研究从未如此简单。

以最高性能支持首和唯一的 AFM 功能
针对高级研究的优化配置

XR纳米力学
XR纳米力学提供一系列高级应用模

式，其亚分子分辨率单可实现聚合

物链的最小结构基元的全面研究。

研究人员将纳米力学数据与宏观尺

度动态力学分析和纳米压痕研究与

布鲁克专有的 AFM-nDMA™模式

关联。从软粘性水凝胶和复合材料

到硬质金属和陶瓷，都实现可定量

的纳米尺度表征。

XR纳米电学
Dimension XR 的纳米电学套装涵盖了

最广泛的 AFM电学技术。研究人员利

用专有的 DataCube模式，能捕获每个

像素点的电学信息，并于力学性能表征

结果相关联，从而提供了过去单个测量

条件下无法获得的信息。

XR纳米电化学
Dimension XR纳米电化学配置可实现

基于 AFM 的稳定的扫描电化学显微镜

(AFM-SECM)和电化学 AFM(EC-AFM)

功能。研究者在这套系统中可同时采集

材料的纳米级电化学、电学和力学性能。