服务热线:029-82475571
more 资讯中心 / News
资讯中心 / NEWS
用于光谱测量系统的性能的方法
点击次数:229次    发布时间:2017-4-28

一种光谱测量系统的性能的方法,该方法包括针对将由所述光谱系统识别的一组成分中的每种成分获得多个成分光谱,所述成分光谱是针对影响该成分光谱的至少一个因素的变化获得的。然后模拟样品光谱,每个样品光谱都是针对对应的潜在样品使用与用于模拟其他样品光谱的成分光谱不同的至少一个不同成分光谱和/或所述成分光谱中的至少一个成分光谱的不同量来模拟的。对所述样品光谱进行分析,以针对每个样品光谱获得所述对应的潜在样品的特征的测量数量和/或性质,并且基于所述测量数量和/或性质生成性能测量。本发明还涉及一种用于执行该方法的设备。

·上一篇:中环实验电炉不需特殊安装
·下一篇:光谱测量系统具有超高分辨率
打印本篇文章    关闭窗口
椭偏仪,激光波长计,激光功率能量计,可调谐激光器,变温霍尔效应测量系统,海洋光学光纤光谱仪,可调谐激光器厂家,激光波长计厂家
版权所有:西安赛航光电科技有限公司  陕ICP备11010496号  技术支持:陕西万博
电话:029-82475571  传真:029-82475571  E-mail:SYL7648@163.com  地址:西安市东关正街世贸大厦B座606室